LUPHOScan SL 是大批量測(cè)量小透鏡的很好的選擇，該系統(tǒng)的主要優(yōu)勢(shì)包括非常快的測(cè)量速度及其測(cè)量透鏡幾何特征的能力。它可以測(cè)量光學(xué)表面和幾何特征，如扣合面（坎合面）的圓度、平面鏡片的平面度以及光學(xué)表面與這些特征的相對(duì)位置等。
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LUPHOScan SL |
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基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)LUPHOScan平臺(tái) 隆重推出的LUPHOScan SL采用了新的探頭技術(shù)，可提高測(cè)量靈活性，并實(shí)現(xiàn)＜60秒的快速測(cè)量時(shí)間。 LUPHOScan SL是大批量生產(chǎn)小透鏡的理想選擇，該系統(tǒng)的主要優(yōu)點(diǎn)包括非?？斓臏y(cè)量速度和測(cè)量幾何透鏡特征的能力。 設(shè)計(jì)和生產(chǎn)方面的優(yōu)勢(shì)。 ● 很高、可重復(fù)的精度 ≤ 30 nm PV值（3σ） ● 市面上很好的穩(wěn)定性 Power值變化量 < ± 15 nm（3σ） PV值 變化量 < ± 1.5 nm（3σ） ● 分析幾何特征 例如扣合面（坎合面）相對(duì)于彼此的或光學(xué)表面的空間位置以及邊緣直徑 ● 薄型透明基板基底 厚度低至 100 μm ● 真正三維的快速測(cè)量 < 120 秒 - 光學(xué)表面和幾何特征 * < 60 秒 - 僅限光學(xué)表面 ** |
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測(cè)量原理 在測(cè)量過(guò)程中，探頭對(duì)被測(cè)物體的整個(gè)表面執(zhí)行螺旋掃描，并生成高密度3D數(shù)據(jù)。 通過(guò)使用空氣軸承主軸旋轉(zhuǎn)物體來(lái)實(shí)現(xiàn)掃描，同時(shí)使用線性平臺(tái)使傳感器徑向和軸向移動(dòng)。 旋轉(zhuǎn)平臺(tái)使傳感器垂直于物體表面。 移動(dòng)平臺(tái)的布局提供了很高的靈活性，即使對(duì)于不常見(jiàn)的表面形狀（包括陡峭的坡度或帶有拐點(diǎn)的輪廓）也是如此。 * 如平坦表面、扣合面（坎合面）和邊緣直徑。 ** 取決于幾何形狀和橫向分辨率。 |
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優(yōu)化的LUPHOScan探針。 LUPHOScan SL上使用的新探針技術(shù)帶來(lái)了更多好處，包括增加了7.5 mm的工作距離。 這樣就可以測(cè)量鏡片模具和模制鏡片上的復(fù)雜幾何特征，例如： ?可以測(cè)量互鎖，而探頭和基板之間不會(huì)發(fā)生碰撞。 ?增加了進(jìn)入陡峭凹面光學(xué)表面的機(jī)會(huì)。 |
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鏡頭形式計(jì)量 |
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具有“*大表格錯(cuò)誤”功能的2D提取配置文件。 可以自動(dòng)優(yōu)化形狀誤差結(jié)果，以輸出零件上存在的*大形狀誤差。 只有真正的3D測(cè)量才能提供此級(jí)別的格式錯(cuò)誤信息。 所示示例表明，相同的3D格式錯(cuò)誤會(huì)產(chǎn)生兩個(gè)完全不同的2D格式錯(cuò)誤。 |
使用3D表面進(jìn)行3D測(cè)量，以進(jìn)行深度報(bào)告。 可以輸出測(cè)量結(jié)果，顯示帶有3D選項(xiàng)的完整表面形狀誤差，包括提取的2D輪廓。 ● 符合ISO的分析結(jié)果（ISO 10110）。 ● 自動(dòng)導(dǎo)出結(jié)果，以進(jìn)行質(zhì)量控制和追溯。 ● 以通用格式導(dǎo)出3D測(cè)量表面以改進(jìn)過(guò)程。 ● 設(shè)置通過(guò)/失敗標(biāo)準(zhǔn)，以方便過(guò)程控制。 |
先進(jìn)的鏡頭計(jì)量 |
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快速測(cè)量和分析光學(xué)表面和幾何特征。 測(cè)量光學(xué)表面和幾何特征，例如互鎖表面的圓度，平面透鏡表面的平坦度以及光學(xué)表面相對(duì)于這些特征的位置。 光學(xué)表面偏離中心并相對(duì)于互鎖特征位置和鏡頭法蘭傾斜。 分析結(jié)果（A）顯示了光學(xué)表面相對(duì)于聯(lián)鎖和透鏡法蘭的透鏡形狀誤差。 結(jié)果突出顯示了實(shí)際形狀誤差，如果將透鏡放入組件中并相對(duì)于這些特征對(duì)齊，則會(huì)看到該形狀誤差。 光學(xué)表面（B）顯示傾斜補(bǔ)償?shù)男螤钫`差 |
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Form Talysurf i系列電感式粗糙度輪廓儀
英國(guó)Taylor Hobson多功能全自動(dòng)精密光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
Form Talysurf PGI高精密軸承通用測(cè)量系統(tǒng)
英國(guó)泰勒 Intra Touch粗糙度輪廓儀
SURTRONIC S100系列表面粗糙度測(cè)量?jī)x
Surtronic DUO便攜式表面粗糙度測(cè)量?jī)x
Form Talysurf PGI NOVUS 表面輪廓儀
Talysurf PGI Optics表面輪廓儀
PGI Matrix泰勒表面輪廓儀
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