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Equotip 550 Leeb里氏硬度檢測儀

功能齊全的里氏硬度檢測儀適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場檢測。堅(jiān)固的觸摸屏設(shè)計(jì)提供卓越的用戶體驗(yàn)以及高質(zhì)量的測量和數(shù)據(jù)分析。增強(qiáng)的軟件功能和分析功能。

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Leeb 測量原理 – 由 Proceq 發(fā)明
Leeb 硬度原理基于動態(tài)（回彈）法。帶堅(jiān)硬金屬壓頭的沖擊體由彈簧向檢測件表面推進(jìn)。當(dāng)沖擊體沖擊測試表面時，表面出現(xiàn)變形，從而導(dǎo)致動能損耗。當(dāng)沖擊體在檢測的沖擊和反彈階段分別距離表面特定距離時，能量損失通過對比速度 vi 和 vr進(jìn)行檢測。
通過沖擊體中的永久磁鐵在準(zhǔn)確定位于沖擊裝置的繞組中產(chǎn)生感應(yīng)電壓來測量速度。檢測到的電壓與沖擊體的速度成正比。然后信號處理會給出硬度讀數(shù)。
 Equotip 550 Leeb里氏硬度檢測儀的測量原理
優(yōu)勢
 ● 可使用完整的 Leeb 探頭包，并與 Portable Rockwell 和 UCI 相結(jié)合
● 具有所有 Equotip 產(chǎn)品倍受肯定的高精度
● 內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料
 Equotip 550 Leeb里氏硬度檢測儀
默認(rèn)單位
 HL
可用單位
 HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA
可用探頭
 Leeb D / DC / DL / S / E / G / C
與其他方法相結(jié)合
 Portable Rockwell，UCI
平均粗糙度
Ra (μm / μinch)
 7 / 275 (Leeb G)
*小質(zhì)量
(kg/lbs)
 0.02 / 0.045 (Leeb C)
*小厚度
(mm/inch)
 1 / 0.04 (Leeb C)

Equotip 550 Leeb里氏硬度檢測儀的特點(diǎn)
功能
應(yīng)用
儀器固件
 ? 沖擊方向自動修正
? 個性化用戶資料和視圖
? 集成至自動測試環(huán)境中（包括遠(yuǎn)程控制）
? 支持 11 種語言和時區(qū)
標(biāo)準(zhǔn)到大對象
 √
PC軟件
 Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告
圓形對象
 與支撐環(huán)結(jié)合使用
顯示屏
 7“帶雙核處理器的彩色堅(jiān)固的觸摸屏裝置（800×480像素）
輕薄對象（＜2Kg）
 帶有沖擊裝置 Leeb C
內(nèi)存
 內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個測量值）
非常堅(jiān)硬的對象
 帶有沖擊裝置 Leeb S 和 E
連接
 USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng)
鑄件
 帶有沖擊裝置 Leeb G 和 D
測量范圍
 150 – 950 HL
拋光的對象
 帶有沖擊裝置 Leeb C
測量精度
 ± 4 HL（800 HL 時為 0.5%）
不易接觸
 帶有沖擊裝置 Leeb DC 和 DL
Equotip 550 Leeb里氏硬度檢測儀
細(xì)小對象（＜5mm）
 x

熱處理表面
 √

其他應(yīng)用
 ● 適合物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 和工業(yè) 4.0 環(huán)境
● 法蘭, 發(fā)動機(jī)組, 軸, 齒輪, 起落架, 紙卷檢測, 線圈, 鋼筋, 管道與熱處理

標(biāo)準(zhǔn)化

標(biāo)準(zhǔn)

準(zhǔn)則

● ASTM A 956
● ASTM E 140
● ASTM A 370
● ISO 16859
● DIN 50156
● GB/T 17394
● JB/T 9378
 ● ASME CRTD-91
● DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1
● VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1
● Nordtest 技術(shù)報(bào)告 424-1, 424-2, 424-3


配件

測量配件


● Equotip Leeb 沖擊裝置 D (356 00 100)
● Equotip Leeb 沖擊裝置 E (356 00 400)
● Equotip Leeb 沖擊裝置 G (356 00 300)
● 適用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撐環(huán)組（12 件裝） (353 03 000)
● 電池組 (327 01 033)
● Equotip Leeb 沖擊裝置 S
● Equotip Leeb 沖擊裝置 DL
● 快速充電器（外置）(327 01 053)
● 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)
 Equotip 550 Leeb里氏硬度檢測儀測量配件

驗(yàn)證工具

● Equotip 測試塊 E，<810 HLE / ~63 HRC (357 14 400)
● Equotip 測試塊 G，~570 HLG / ~340 HB (357 32 300)
● Equotip 測試塊 D/DC，<775 HLD / ~56 HRC (357 13 100)
● Equotip 測試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠

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上海市浦東外高橋保稅區(qū)美約路81號5號樓311

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