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使用渦流方式對飛機材料進行腐蝕探測和測量

腐蝕包括以下幾種情況：
● 均勻覆蓋住整個表面的均勻腐蝕
● 分布不均勻，且單個侵蝕區(qū)域較小、較深的點蝕（凹陷小坑）
● 沿著細長晶粒方向?qū)訉油七M的剝落腐蝕
● 沿著晶粒邊緣生發(fā)的晶間腐蝕
在很多情況下，特別是在航空航天工業(yè)中，被檢材料一般為某種鋁合金，因此這里我們將講述對鋁合金的檢測應用。使用渦流技術(shù)通常探測不到鋼材料中的腐蝕情況，盡管有一些例外，如：常用于管道檢測的反射遠場技術(shù)。

設(shè)備的選擇

? 儀器	? 探頭	? 參考標準試塊
要對材料的腐蝕情況進行探測，選擇具有高增益和低漂移特性的儀器，而且在反射（發(fā)射-接收）模式下完成操作。低通濾波器（LPF）也是一個非常有用的功能，可以減少在使用某些探頭時或經(jīng)常在高增益設(shè)置中出現(xiàn)的背景噪聲。	探頭通常是直徑小于12毫米的反射點/面型探頭，雖然有時為了覆蓋較大的區(qū)域，也會使用直徑較大的探頭。特殊的低噪聲、高增益、反射型探頭專門為探測鋁合金中的腐蝕而設(shè)計。	可以使用一種階梯楔塊型參考標準試塊進行校準，這個參考試塊需具有與被測區(qū)域相似的電導率和厚度。試塊上厚度減少了10%、20%和30%的階梯為校準中常用的區(qū)域。

阻抗平面圖
阻抗平面圖的重要作用是使用戶在電導率曲線上觀察到材料厚度所受到的腐蝕影響。在儀器屏幕上顯示的阻抗平面圖中，點的移動情況表明了材料厚度的變化。

圖1	圖2
圖1顯示的是一個典型的阻抗平面圖，圖中的坐標軸分別為電感抗（XL）和電阻（R）。當探頭處于空中時，點位于電導率曲線的頂部，隨著材料電導率的增加，這個點會沿著曲線向下移動，點B的位置為待測鋁合金的平衡點。 從點B位置開始，隨著材料厚度的縮減，點會沿著厚度曲線向上移動。	圖2中，我們（通過相位控制方式）轉(zhuǎn)動了一下視圖，將提離信號變?yōu)樗椒较颍⒃黾恿藘x器的增益，目的是只讓矩形框中的區(qū)域占滿儀器的屏幕。如果厚度曲線上的點C位置代表20%的厚度減縮，則當探頭移動到腐蝕區(qū)域時，圖中的點就會從點B位置移動到點C位置。

單層材料的腐蝕探測
這是容易探測到的腐蝕情況。當材料只有一層時，儀器可以很高的靈敏度探測到材料的腐蝕缺陷，而且可以顯示出低達1%的厚度減薄情況。然而，在使用如此高的增益時，也會使用戶看到其它方面的變化，如：電導率，甚至鋁板軋制狀態(tài)的變化，盡管這些變化通常都非常緩慢。頻率雖然不是關(guān)鍵因素，但是我們通常會將頻率設(shè)置為一個標準的穿透深度。

圖3	圖4
對于這類檢測，使用一個（與被測材料相同或相似的）參考標準試塊進行校準，試塊上需帶有代表5%、10%和20%厚度減薄的區(qū)域，因為這樣可以對材料中的淺層腐蝕進行較好的評估（參見圖3）。	圖4中的阻抗圖表明由厚度減薄引起的出現(xiàn)在厚度曲線上的缺陷指示。腐蝕的評估通過比較不同的厚度讀數(shù)而完成。在使用標準試塊完成了校準后，可能需要為被測材料重新平衡儀器，因為校準試塊和被測材料的電導率會有所不同。增益不需要重新調(diào)整。

雙層材料的腐蝕探測
當兩片鋁板被接合在一起時，要探測鋁板的腐蝕情況會比較困難，要對其腐蝕區(qū)域進行測量則更是難上加難。測量雙層材料腐蝕區(qū)域的主要問題是兩層蒙皮之間存在的氣隙會變化不定，從而會干擾測量操作，使操作人員誤將其認為是腐蝕缺陷。對于探頭來說，氣隙看起來像是一種厚度減薄情況，盡管其在圖中表現(xiàn)的行程會稍微有些不同，實際上，這點不同不足以對氣隙的存在做出肯定的判斷。腐蝕產(chǎn)品也會產(chǎn)生一種氣隙，這就使情況變得更為復雜。
可以使用3種不同的技術(shù)對腐蝕區(qū)域進行探測和測量：
1. 有限穿透方式
2. 雙頻方式
3. 變頻方式

具體的測量技術(shù)就不展開了，如想要了解更多關(guān)于航空航天材料腐蝕的內(nèi)容，歡迎來電詳詢，021-50473900