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在線測量確保薄膜光伏模塊的高效率


在制造薄膜太陽能電池板或鋁箔(例如CIS / CIGS,CdTe)時,準(zhǔn)確保持規(guī)定的厚度和成分極限非常重要,因?yàn)檫@會直接影響電池板的效率。 只有使用精確,快速和可靠的在線測量系統(tǒng),才能連續(xù)監(jiān)控生產(chǎn)參數(shù),從而確保涂層工藝的質(zhì)量。

【遇到的問題】

典型的薄膜光伏(PV)系統(tǒng)由涂覆在玻璃或箔片等基材上的相當(dāng)復(fù)雜的層堆疊組成。 隨著制造商努力開發(fā)低成本,可靠的CdTe / CIS / CIGS產(chǎn)品,他們面臨的一些關(guān)鍵的問題是:
? 更高的模塊效率;
? 吸收器層更薄,小于1μm;
? 大面積上一致的吸收膜化學(xué)計量和均勻性。

【解決方案】

在這里,成熟的無損測量技術(shù)(例如X射線熒光(XRF))有助于提高均勻性和化學(xué)計量,從而提高電池效率和產(chǎn)量。 FISCHERSCOPE®X-RAY 5400可對復(fù)雜的CIS / CIGS / CdTe系統(tǒng)中的層厚度和成分進(jìn)行精確的測量,從而在生產(chǎn)過程中的各個階段進(jìn)行連續(xù)的在線質(zhì)量控制。
圖.1:FISCHERSCOPE X-RAY 5400的X射線頭(左)和易于更換的保護(hù)膜的詳細(xì)視圖
圖2:CIGS厚度讀數(shù)和測量距離的變化–藍(lán)色點(diǎn)帶有距離補(bǔ)償,紅色點(diǎn)帶有距離補(bǔ)償。
由于X射線頭通過冷卻的標(biāo)準(zhǔn)接口安裝到真空室系統(tǒng),因此它們甚至可以在基板溫度接近500°C的條件下用于生產(chǎn)機(jī)械中。
產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中可能會發(fā)生移動和鼓起,這會導(dǎo)致樣品和測量頭之間的距離波動。 為了防止偽造的影響,F(xiàn)ISCHER的WinFTM®軟件使用了已測量的XRF光譜中已包含的信息,無需任何運(yùn)動部件即可實(shí)現(xiàn)可靠的距離補(bǔ)償,從而避免了使用輔助距離傳感器。
激活距離補(bǔ)償功能后,可以在不顯著影響測量讀數(shù)的情況下將測量距離*多更改+/- 5 mm。
使用XRF技術(shù)可以準(zhǔn)確,精確地監(jiān)控薄膜太陽能電池的生產(chǎn)質(zhì)量。 FISCHER特別設(shè)計的在線X射線測量頭FISCHERSCOPE®X-RAY 5400還可以滿足現(xiàn)場生產(chǎn)環(huán)境的所有堅(jiān)固性要求。 有關(guān)更多信息,請聯(lián)系上海量博實(shí)業(yè)有限公式,021-50473900。
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