FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

移動材料分析和涂層厚度測量

---

如果樣品無法進入儀器，則儀器需要進入樣品！ 借助其FISCHERSCOPE®X-RAYXAN®500，F(xiàn)ischer提供了一種移動X射線熒光（XRF）設(shè)備，該設(shè)備針對涂層厚度測量和合金材料分析進行了優(yōu)化。 盡管體積很小，但XAN500卻可以與實驗室中發(fā)現(xiàn)的任何XRF儀器相比較。 其現(xiàn)代的硅漂移檢測器（SDD）可確保在短短幾秒鐘內(nèi)獲得正確的測量結(jié)果。 甚至可以可靠地解決涉及多層和各種合金的復雜測量任務。 特別是在測量涂層厚度時，確保設(shè)備與樣品之間的距離保持恒定并且光路是筆直的非常重要。 XAN500的三點支持使您可以安全，穩(wěn)定地設(shè)置設(shè)備，以精確測量涂層。 結(jié)果直接顯示在設(shè)備的顯示屏上。 為了進一步評估數(shù)據(jù)，XAN500配備了完整的WinFTM®軟件套件。 WinFTM的涂層厚度測量和材料分析均基于基本參數(shù)分析。 這使得無需事先校準即可進行準確測量，即無需標準。 在只有高精確度就足夠的情況下，我們還提供DAkkS認證的標準，可以快速，輕松地為特定的測量任務校準設(shè)備。

特征 ■ 重量：1.9kg ■ 測量點：3mm? ■ 硅漂移檢測器 ■ 鎢X射線管，*大40kV 4W ■ WinFTM BASIC或帶有10英寸超極本的WinFTM SUPER（可選）

優(yōu)勢 ? 一種儀器，三種使用方式：手持式，臺式和自動化 ? 精確的涂層厚度測量和材料分析，尤其適用于難于加工的材料組合，多層涂層和合金（例如鐵上的ZnNi） ? 小型零件的測量箱同時是一個手提箱，因此儀器可以安全快速地移動到另一個位置 ? 強大的WinFTM軟件用于數(shù)據(jù)分析 ? 根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568進行測量

應用

? 在生產(chǎn)過程中，實時檢測鍍層厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）
? 可便捷且穩(wěn)定地測量大尺寸部件，如管道、外殼或機械零件。
? 將儀器放置到測量箱中，XAN500即成為功能齊全的臺式儀器，可精確地測量小尺寸零件，如螺母和螺栓。
? 還可整合到生產(chǎn)線的控制系統(tǒng)中，可以實現(xiàn)充分的質(zhì)量監(jiān)控

---

XAN500是市場上功能廣泛的X射線熒光儀器。 用作手持設(shè)備，是控制大型零件（如汽車擋泥板，管道，渦輪葉片或壓路機）上的涂層的理想選擇，并且可以在正在進行的生產(chǎn)中進行控制。 但是這種方便的儀器不僅限于大規(guī)模的測量任務。 借助可選的測量盒-只需輕輕一按，XAN500便成為了成熟的臺式儀器，可快速，可靠地測試螺釘?shù)刃×慵?br /> XAN500還適合用于自動化質(zhì)量保證； 它可以直接集成到生產(chǎn)線中，從而實現(xiàn)持續(xù)的質(zhì)量控制。