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德國菲希爾X射線熒光分析儀XDV-µ

XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60μm。短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。

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FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL X射線熒光測量儀

要檢查的層越薄，檢測器的選擇就越重要。 FISCHERSCOPE?X-RAY XDAL?系列包含幾個不同的模型。 PIN檢測器可用于材料分析和涂層厚度測量。 如果需要超高精度分析，則硅漂移檢測器是很好的選擇。

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X-RAY 5000德國菲希爾合金分析/鍍層測量儀

X-RAY 5000 系列儀器采用模塊化設(shè)計，可輕松集成到生產(chǎn)線中。例如，當(dāng)必須測量大尺寸底材（如錫板）上的鍍層時，X-RAY 5000 堪稱理想解決方案。根據(jù)底材和鍍層材料的不同，客戶可按需求選配X射線源、探測器以及基本濾片。

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